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邏輯芯片測試分選機
主要用于Functional Test的IC測試(常溫、高溫、低溫)分類的機械產品,高產能、穩定性高,尤其在小尺寸產品測位上表現突出,根據客戶的不同產品要求可選擇1、2、4、8、12、16、32測試位。
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